基于所执行的访问命令对半导体存储功耗的测试制造技术
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】基于所执行的访问命令对半导体存储功耗的测试
技术介绍
1.背景和相关技术固态驱动器(SSD)制造商经常基于与非(NAND)数据表中的最大电流规范设计电源电路。与非数据表可以包括用于与非的最大均方根(RMS)电流。然而，与非数据表通常包括关于与非的功率特性的很少(若有的话)附加信息。在运行期间，与非芯片的真实电流汲取频繁展示接近3xRMS电流的尖峰(甚至可能更高)。例如，跨SSD与非阵列中的若干管芯的电流尖峰可能同时出现。同时的电流尖峰可能破坏SSD的电源电路，使得SSD发生故障。仅基于与非数据表中的信息，电路设计者可能意识不到电流尖峰的潜在幅值。标准测试技术可以用于获得用于与非的一些附加功率特性信息。然而标准测试技术很少捕获由于同时功率尖峰而引起的损坏功率情况，因为主机生成的工作负荷通常并不特别地一次影响多个(或所有)与非管芯。
技术实现思路
本专利技术扩展到用于测试存储设备电源电路的方法、系统以及计算机程序产品。存储设备控制器包括控制器固件和控制器存储装置。测试程序嵌在存储设备控制器中。在一个方面中，存储设备控制器接收发起功率测试的命令。存储设备控制器响应于接收命令执行测...
【技术保护点】
一种用于在存储设备处使用的方法，所述存储设备包括控制器和多个存储器设备，所述方法用于测试所述多个存储器设备的功率特性，所述方法包括：在所述控制器处接收发起功率测试的命令，所述功率测试先前从用于测试所述多个存储器设备的所述功率特性的多个功率测试中被标识，所述功率测试定义存储器命令的模式；响应于接收到所述命令，执行嵌在所述控制器中的测试程序；所述测试程序访问所述功率测试；以及所述测试程序通过从所述控制器向所述一个或多个存储器设备发布所述存储器命令的模式来测试在所述多个存储器设备中包括的一个或多个存储器设备的所述功率特性。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.11.04 US 14/532,6461.一种用于在存储设备处使用的方法，所述存储设备包括控制器和多个存储器设备，所述方法用于测试所述多个存储器设备的功率特性，所述方法包括：在所述控制器处接收发起功率测试的命令，所述功率测试先前从用于测试所述多个存储器设备的所述功率特性的多个功率测试中被标识，所述功率测试定义存储器命令的模式；响应于接收到所述命令，执行嵌在所述控制器中的测试程序；所述测试程序访问所述功率测试；以及所述测试程序通过从所述控制器向所述一个或多个存储器设备发布所述存储器命令的模式来测试在所述多个存储器设备中包括的一个或多个存储器设备的所述功率特性。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述多个存储器设备包括快闪存储器设备的阵列，并且其中在所述控制器处接收命令包括接收发起用于测试所述快闪存储器设备的阵列的所述功率特性的功率测试的命令；并且其中所述测试程序测试一个或多个存储器设备的所述功率特性包括所述测试程序通过发布快闪存储器命令的模式来测试在所述快闪存储器设备的阵列中包括的一个或多个快闪存储器设备的所述功率特性。3.根据权利要求2所述的方法，还包括：在所述一个或多个快闪存储器设备处实现所述快闪存储器命令的模式期间，接收所述一个或多个快闪存储器设备处的检测电压的电压测量；以及确定所述一个或多个快闪存储器设备在所述检测电压下是否适当运行。4.根据权利要求2所述的方法，其中测试在所述快闪存储器设备的阵列中包括的一个或多个快闪存储器设备的所述功率特性包括发布包括以下命令中的至少一个命令的快闪存储器命令的模式：写入命令、读取命令以及擦除命令。5.根据权利要求1所述的方法，其中在所述控制器处接收发起功率测试的命令包括接收发起先前被标识为从所述一个或多个存储器设备引起实际最大电流汲取的功率测试的命令。6.根据权利要求1所述的方法，其中接收发起功率测试的命令包括接收发起在测试矩阵中包括的多个功率测试中的每一个功率测试的命令；其中访问所述功率测试包括访问来自控制器存储装置内的所述测试矩阵；并且其中测试一个或多个存储器设备的所述功率特性包括：对于在所述测试矩阵中包括的所述多个功率测试中的每一个功率...
【专利技术属性】
技术研发人员：L·M·考尔菲尔德，M·A·桑塔涅洛，J·M·安德雷瓦斯，J·J·西格勒，
申请(专利权)人：微软技术许可有限责任公司，
类型：发明
国别省市：美国,US
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