专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
皇家飞利浦有限公司
>
用于光子计数探测器的X射线通量降低器制造技术
>技术资料下载
下载用于光子计数探测器的X射线通量降低器的技术资料
文档序号:16044285
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种成像系统包括辐射源(108),所述辐射源被配置为关于检查区域(106)旋转并且发射穿过所述检查区域的辐射。所述成像系统还包括辐射敏感像素(112)的阵列,其被配置为探测穿过所述检查区域的辐射并输出指示探测到的辐射的信号。辐射敏感像素的阵...
该专利属于皇家飞利浦有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过皇家飞利浦有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。