用于光子计数探测器的X射线通量降低器制造技术
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于光子计数探测器的X射线通量降低器
以下总体涉及控制入射在成像系统的光子计数探测器上的X射线通量，并且具体参考计算机断层摄影(CT)的应用进行描述。然而，以下也适用于平板、X射线、放射治疗和/或其他成像应用。
技术介绍
计算机断层摄影扫描器包括发射X射线射束的X射线管。X射线束的一部分穿过定位于检查区域的视场内的对象或物体，并且根据对象或物体的辐射电密度被衰减。X射线束的另一个子部分穿过检查区域的视场而不穿过对象或物体。探测器阵列探测穿过视场的辐射并产生指示其的信号。重建器重建信号，产生体积图像数据。射束整形器已经被定位在X射线管与检查区域之间的X射线束的路径中。射束整形器已经被称为领结滤波器，因为它的总体物理形状类似于领结。射束整形器被整形以在射束的边缘处更大程度地衰减射束。这使得射束整形器非常适合于减少与直接转换光子计数探测器连接的边缘处的通量，其在较高通量率下遭受不足的计数率能力。遗憾的是，对于在衰减结构之间没有(或者具有低)衰减结构(例如，腿之间的空间)的物体或对象(例如，如腿和臂的四肢)的部分，射束整形器不太适合于直接转换光子计数探测器。这是因为，例如...
【技术保护点】
一种成像系统(100)，包括：辐射源(108)，其被配置为关于检查区域(106)旋转并且发射穿过所述检查区域的辐射；辐射敏感像素(112)的阵列，其被配置为探测穿过所述检查区域的辐射并且输出指示探测到的辐射的信号，其中，所述辐射敏感像素的阵列被设置为跨所述检查区域与所述辐射源相对；以及刚性通量滤波器设备(130)，其被设置在所述辐射源与像素的辐射敏感探测器阵列之间的所述检查区域中，其中，所述通量滤波器设备被配置为对穿过所述检查区域并且入射在所述通量滤波器设备上的辐射进行滤波，并且其中，离开所述通量滤波器设备的辐射具有预定通量。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.11.20 US 62/082,1841.一种成像系统(100)，包括：辐射源(108)，其被配置为关于检查区域(106)旋转并且发射穿过所述检查区域的辐射；辐射敏感像素(112)的阵列，其被配置为探测穿过所述检查区域的辐射并且输出指示探测到的辐射的信号，其中，所述辐射敏感像素的阵列被设置为跨所述检查区域与所述辐射源相对；以及刚性通量滤波器设备(130)，其被设置在所述辐射源与像素的辐射敏感探测器阵列之间的所述检查区域中，其中，所述通量滤波器设备被配置为对穿过所述检查区域并且入射在所述通量滤波器设备上的辐射进行滤波，并且其中，离开所述通量滤波器设备的辐射具有预定通量。2.根据权利要求1所述的成像系统，其中，所述刚性通量滤波器设备包括具有第一衰减特性的内部区域(300)和具有第二衰减特性的外部区域(302)，其中，所述内部区域比所述外部区域将辐射衰减更大的程度。3.根据权利要求1至2中的任一项所述的成像系统，其中，所述刚性通量滤波器设备包括四氟乙烯材料的合成含氟聚合物或铝中的至少一种。4.根据权利要求1至2中的任一项所述的成像系统，其中，所述辐射敏感探测器阵列包括光子计数像素。5.根据权利要求1至4中的任一项所述的成像系统，其中，所述刚性通量滤波器设备具有对应于给定辐射源电压和给定辐射源电流的厚度。6.根据权利要求5所述的成像系统，其中，所述刚性通量滤波器设备是来自通量滤波器设备的集合的一个刚性通量滤波器设备，每个通量滤波器设备具有对应于不同的给定辐射源电压和辐射源电流设置的不同组合的厚度。7.根据权利要求1至6中的任一项所述的成像系统，其中，所述刚性通量滤波器设备至少基于预定通量值来对指向所述辐射敏感像素的阵列的探测器像素的内部区域的辐射进行滤波。8.根据权利要求1至7中的任一项所述的成像系统，还包括：源控制器(110)，其被配置为在至少第一通量与第二不同的通量之间调制所述辐射源的辐射源电流。9.根据权利要求1至7中的任一...
【专利技术属性】
技术研发人员：B·J·布伦德尔，R·普罗克绍，T·克勒，E·勒斯尔，H·德尔，M·格拉斯，A·特伦，
申请(专利权)人：皇家飞利浦有限公司，
类型：发明
国别省市：荷兰,NL
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