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本发明公开了一种电路板测试方法、装置及系统，方法包括：S1.构建电路板坐标系和测试部件坐标系；S2.在电路板坐标系中确定待测点，并确定所述待测点在测试部件坐标系中的测试坐标；S3.根据所述待测点在各测试部件坐标系中的坐标确定执行测试动作的测...
该专利属于深圳市赛伦北斗科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市赛伦北斗科技有限责任公司授权不得商用。

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