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一种测量微量物质的方法技术
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文档序号:16035765
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本发明公开了一种测量微量物质的方法,属于纳米半导体材料领域。其工艺流程为:首先利用水热法制备ZnO纳米棒阵列样品,然后利用化学气相沉积法在ZnO纳米棒表面生长薄层MoS2材料,最终形成ZnO纳米棒支撑的薄层MoS2材料,利用薄层MoS2的两...
该专利属于电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过电子科技大学授权不得商用。
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