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本发明公开一种基于去芯侧边抛磨光纤的折射率监测装置及方法，该装置包括通过单模通信光纤依次连接的宽谱光源、去芯侧边抛磨光纤和光频谱分析仪，所述去芯侧边抛磨光纤的抛磨区由单模通信光纤经侧边抛磨而成，依次包括第一纤芯完整区、第一抛磨过渡区、抛磨平...
该专利属于暨南大学所有，仅供学习研究参考，未经过暨南大学授权不得商用。

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