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本发明涉及光学检测技术领域，公开了一种光学系统综合测量装置。光学系统综合测量装置，包括测微目镜、多维调整底座和望远镜测角物镜筒/显微镜测微物镜筒，所述测微目镜在物镜成像位置设置有测微机构，所述多维调整底座包括升降支架、前后移动标尺、径向微调...
该专利属于昆明荣者光电科技发展有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆明荣者光电科技发展有限公司授权不得商用。

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