光学系统综合测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及光学检测技术领域，公开了一种光学系统综合测量装置。光学系统综合测量装置，包括测微目镜、多维调整底座和望远镜测角物镜筒/显微镜测微物镜筒，所述测微目镜在物镜成像位置设置有测微机构，所述多维调整底座包括升降支架、前后移动标尺、径向微调标尺和基座，所述测微目镜固定设置在所述升降支架顶部，所述前后移动标尺和径向微调标尺设置在所述升降支架底部的所述基座上，所述望远镜测角物镜筒/显微镜测微物镜筒设置在所述测微目镜端面的转换接口上。本发明专利技术可灵活地选择安装望远镜测角物镜筒和显微镜测微物镜筒对光学系统多维光学参数进行快速精确测量，提高了光学系统测量的功能性、便捷性、测量精度和工作效率。

【技术实现步骤摘要】
光学系统综合测量装置
本专利技术涉及光学检测
，尤其涉及一种光学系统综合测量装置。
技术介绍
光学系统各种光学参数的测量要求精度很高、测量难度大，现有光学系统通常采用接触式的倍率计进行参数测量，这种测量方式操作复杂且不稳定、测量精度低、测量范围小及功能单一，导致现有光学系统测量的功能性、便捷性、测量精度和工作效率较低。
技术实现思路
鉴于此，本专利技术提供一种光学系统综合测量装置，解决现有光学系统测量的功能性、便捷性、测量精度和工作效率较低的技术问题。根据本专利技术的一个实施例，提供一种光学系统综合测量装置，包括测微目镜、多维调整底座和望远镜测角物镜筒/显微镜测微物镜筒，所述测微目镜在物镜成像位置设置有测微机构，所述多维调整底座包括升降支架、前后移动标尺、径向微调标尺和基座，所述测微目镜固定设置在所述升降支架顶部，所述前后移动标尺和径向微调标尺设置在所述升降支架底部的所述基座上，所述望远镜测角物镜筒/显微镜测微物镜筒设置在所述测微目镜端面的转换接口上。优选的，所述光学系统综合测量装置还包括设置在所述测微目镜端口的摄像机，用于拍摄显示所述测微目镜的目标成像。优选的，所述摄像机包括CC本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学系统综合测量装置，其特征在于，包括测微目镜、多维调整底座和望远镜测角物镜筒/显微镜测微物镜筒，所述测微目镜在物镜成像位置设置有测微机构，所述多维调整底座包括升降支架、前后移动标尺、径向微调标尺和基座，所述测微目镜固定设置在所述升降支架顶部，所述前后移动标尺和径向微调标尺设置在所述升降支架底部的所述基座上，所述望远镜测角物镜筒/显微镜测微物镜筒设置在所述测微目镜端面的转换接口上。

【技术特征摘要】
1.一种光学系统综合测量装置，其特征在于，包括测微目镜、多维调整底座和望远镜测角物镜筒/显微镜测微物镜筒，所述测微目镜在物镜成像位置设置有测微机构，所述多维调整底座包括升降支架、前后移动标尺、径向微调标尺和基座，所述测微目镜固定设置在所述升降支架顶部，所述前后移动标尺和径向微调标尺设置在所述升降支架底部的所述基座上，所述望远镜测角物镜筒/显微镜测微物镜筒设置在所述测微目镜端面的转换接口上。2.根据权利要求1所述的光学系统综合测量装置，其特征在于，还包括设置在所述测微目镜端口的摄像机，用于拍摄显示所述测微目镜的目标成像。3.根据权利要求2所述的光学系统综合测量装置，其特征在于，所述摄像机包括CCD图像传感器。4.根据权利要求2所述的光学系统综合测量装置，其特征在于，所述测微目镜端部设置有内螺纹，所述摄像机光线入口端部设置有与所述测微目镜端部内螺纹适配的外螺纹，所述摄像机通过所述内螺纹和外螺纹配合可拆卸地安装在所述测微目镜端部。5.根据权利要求2所述的光学系统综合测量装置，其特征在于，所述测微目镜端部设置有外螺纹，所述摄像机光线入口端部设置有与所述测微目镜端部外螺纹适配的内螺纹，所述摄像机通过所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：牛津，田苗，高蕾，冯卫平，旷立明，
申请(专利权)人：昆明荣者光电科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：云南,53