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本发明提供了一种光电跟踪测量设备指向误差验证方法，所涉及的领域主要为光电跟踪测量领域，高精度指向误差准实时或者实时验证。针对目标跟踪测量过程中，指向偏差是影响测量精度的最主要误差。随着日益增加的高精度测量的需求，对指向偏差的解算算法也越来越...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。

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