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本实用新型提供一种老化测试扩展板，包括扩展板主体，所述扩展板主体内包括：第一插接区域，适于插接用于老化测试的待测器件的插座；第二插接区域，适于插接用于老化测试的待测器件的插座；转接区域，位于所述第一插接区域与所述第二插接区域之间，且与所述第...该专利属于中芯国际集成电路制造（北京）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中芯国际集成电路制造（北京）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司授权不得商用。