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本发明提供一种基于奇异谱分析的电离层异常探测方法，获取历史电离层观测数据ION；利用奇异谱分析法得到电离层正常变化成分IONmain；基于电离层平静时期计算正常背景噪声ε；根据IONmain和ε，得到电离层观测数据ION的正常变化范围；当实...
该专利属于武汉大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉大学授权不得商用。

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