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基于双向光耦的编码器信号故障检测电路制造技术
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下载基于双向光耦的编码器信号故障检测电路的技术资料
文档序号:15938618
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本实用新型提供了一种基于双向光耦的编码器信号故障检测电路,解决了现有技术断线检测电路结构复杂的缺点,其包括依次设置的A相光耦单元、B相光耦单元和Z相光耦单元,的A相光耦单元、B相光耦单元和Z相光耦单元分别连接能使A相光耦单元、B相光耦单元和...
该专利属于杭州之山智控技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州之山智控技术有限公司授权不得商用。
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