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根据一个方面，本发明涉及用于通过透射以光学检测在流体样品中运动的纳米粒子的设备(100)，包括：光源(10)，用于发射用于照射样品的空间非相干光束；包括显微镜物镜(31)的成像光学系统(30)；二维光学检测器(40)，其包括通过成像光学系统...
该专利属于巴黎城市物理化工高等学院所有，仅供学习研究参考，未经过巴黎城市物理化工高等学院授权不得商用。

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