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半导体装置的检查装置以及半导体装置的检查方法制造方法及图纸
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文档序号:15879477
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本发明目的在于提供能够以低成本高精度地对多个探针的高度方向错位进行检测的半导体装置的检查装置及检查方法。本发明涉及的半导体装置的检查装置(1)具有:探针插座(19);以及绝缘板(16),其经由探针插座来保持探针(11),探针插座具有在探针的...
该专利属于三菱电机株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三菱电机株式会社授权不得商用。
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