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本发明提出了用于检测颗粒质量的质谱装置。该装置包括：电离源；离子阱；样品靶；激光器；紫外灯；分光镜；成像器；光电检测器以及计算单元。由此，可以在稳定的测量环境中，利用紫外灯实现多次改变单个带电颗粒的电荷数，进而确定该单个带电颗粒的质量，从而...
该专利属于中国科学院化学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院化学研究所授权不得商用。

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