检测颗粒质量的质谱装置、用途及测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术提出了用于检测颗粒质量的质谱装置。该装置包括：电离源；离子阱；样品靶；激光器；紫外灯；分光镜；成像器；光电检测器以及计算单元。由此，可以在稳定的测量环境中，利用紫外灯实现多次改变单个带电颗粒的电荷数，进而确定该单个带电颗粒的质量，从而可以提高检测结果的可靠性。

Mass spectrometer device for detecting particle quality, use and measuring method

The present invention provides a mass spectrometer for detecting particle quality. The device comprises an ionization source, an ion trap, a sample target, a laser, an ultraviolet lamp, a spectroscope, an imager, a photoelectric detector, and a calculation unit. Thus, in the measurement of environmental stability, using UV light to achieve the number of charge change single charged particles repeatedly, and then determine the quality of the single charged particles, which can improve the reliability of test results.

【技术实现步骤摘要】
检测颗粒质量的质谱装置、用途及测量方法
本专利技术涉及质谱分析领域，具体地，本专利技术涉及检测颗粒质量的质谱装置、用途及测量方法。
技术介绍
常见的颗粒物质包括生物颗粒(细胞、病毒和微生物等)、大气溶胶颗粒、纳米材料颗粒等。颗粒物质，特别是纳米颗粒以其特有的物理(电学、光学、热动力学)、化学及生物学特性越来越受到人们的关注。对颗粒物质的质量、尺寸、化学特性进行定性定量的分析也将加深对颗粒物质特性的理解。质谱装置已被广泛应用于食品、药品、材料、生命分析等各个领域。目前，质谱装置也可以用于测定颗粒物质的质量。利用质谱装置测量带电颗粒的质量需要测量带电颗粒的质荷比与电荷数，以此计算出颗粒的质量。然而，目前用于测定颗粒质量的质谱装置以及采用质谱装置测定颗粒质量的方法仍有待改进。
技术实现思路
本申请是基于专利技术人对以下事实和问题的发现和认识作出的：在采用质谱装置测定颗粒质量时，需要改变带电颗粒的电荷数。一般的质谱装置采用电子枪发射出具有一定能量的电子束轰击带电颗粒从而改变带电颗粒的电荷数。而在实际测定过程中，电子枪常常损坏，导致实验操作很难控制。专利技术人经过深入研究发现，这是由于在电离过程中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测颗粒质量的质谱装置，其特征在于，包括：电离源，所述电离源为激光诱导声波解吸电离源，适于将待测颗粒电离，以便获得带电颗粒；离子阱，所述离子阱适于囚禁所述带电颗粒；样品靶，所述样品靶设置在所述离子阱与所述电离源之间；激光器，所述激光器为连续激光器，适于发射激光，所述激光照射所述离子阱中的所述带电颗粒，以便获得带电颗粒的散射光；紫外灯，通过所述紫外灯发出紫外光照射囚禁在所述离子阱中的所述带电颗粒，改变所述带电颗粒的电荷数；分光镜，所述分光镜被设置为用于接收所述散射光，并对所述散射光进行分光，以便获得第一散射光以及第二散射光；成像器，所述成像器适于接收所述第一散射光，并基于所述第一散射光对所述...

【技术特征摘要】
1.一种检测颗粒质量的质谱装置，其特征在于，包括：电离源，所述电离源为激光诱导声波解吸电离源，适于将待测颗粒电离，以便获得带电颗粒；离子阱，所述离子阱适于囚禁所述带电颗粒；样品靶，所述样品靶设置在所述离子阱与所述电离源之间；激光器，所述激光器为连续激光器，适于发射激光，所述激光照射所述离子阱中的所述带电颗粒，以便获得带电颗粒的散射光；紫外灯，通过所述紫外灯发出紫外光照射囚禁在所述离子阱中的所述带电颗粒，改变所述带电颗粒的电荷数；分光镜，所述分光镜被设置为用于接收所述散射光，并对所述散射光进行分光，以便获得第一散射光以及第二散射光；成像器，所述成像器适于接收所述第一散射光，并基于所述第一散射光对所述带电颗粒成像；光电检测器，所述光电检测器适于接收所述第二散射光；以及计算单元，所述计算单元与所述光电检测器电连接，适于确定所述带电颗粒的质量。2.根据权利要求1所述的质谱装置，其特征在于，所述离子阱包括：上端电极和下端电极，所述上端电极和下端电极分别接地；环电极，所述环电极设置在所述上端电极和所述下端电极之间，并且在所述环电极上设置囚禁所述带电颗粒的射频电压和囚禁频率；第一绝缘陶瓷环，所述第一绝缘陶瓷环设置在所述上端电极以及所述环电极之间，所述第一绝缘陶瓷环具有第一开口以及第二开口，所述带电颗粒由所述第一开口处进入所述离子阱内；以及第二绝缘陶瓷环，所述第二绝缘陶瓷环设置在所述环电极以及所述下端电极之间，所述第二绝缘陶瓷环具有第三开口以及第四开口，所述激光由所述第四开口处射入所述离子阱内并从所述第二开口处射出，所述紫外光由所述第三开口处射入所述离子阱内。3.根据权利要求2所述的质谱装置，其特征在于，所述环电极的半径为3～6mm；所述离子阱中心到所述上端电极的距离为4～6mm；所述离子阱中心到所述下端电极的距离为4～6mm；其中，所述离子阱中心到所述上端电极的距离与所述离子阱中心到所述下端电极的距离相等。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：聂宗秀，朱凯，蒋玉蓉，张宁，熊彩侨，王继云，
申请(专利权)人：中国科学院化学研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11