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本发明公开了一种基于分区局部光顺权因子的T样条曲面拟合方法，包括如下步骤：输入参数化的三角网格以及初始T样条；对参数域进行区域分割，得到参数域的若干子区域；根据输入T样条的控制网格在参数域上原像的拓扑结构，生成光顺性检验点集；根据每个光顺性...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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