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本发明属于电子设备故障检测领域，公开了一种基于相似性度量因数的红外温升元件异常检测方法包括：获取标准光学图像、标准红外图像，和待测红外图像；将标准光学图像进行标定；确定待检测元件，以及与待检测元件对应的标准元件；得到N组标准电子设备电路板上...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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