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本发明涉及Nand Flash质量检验领域，特别涉及一种检验Nand Flash质量的方法及系统。本发明是通过S1、校验Nand Flash内的内存块的每一页对应的冗余信息，获得校验不合格的内存块的编号；S2、根据所述校验不合格的内存块的编...
该专利属于惠州佰维存储科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过惠州佰维存储科技有限公司授权不得商用。

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