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本发明实施例公开了一种集成电路和集成电路的测试方法。其中，集成电路包括：至少一个第一支路和至少一个第二支路；所述第一支路包括至少一个第一电容；所述第一支路的第一端与所述第二支路的第一端电连接，所述第一支路的第二端与所述第二支路的第二端在低频...
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