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本实用新型提供一种晶圆测试针座的改良结构，包括电路板、基板及针座，其中该电路板一侧电性连接有基板，且基板相对于电路板另一侧装设有针座，其针座为由上基材及下基材所组成，并在上基材及下基材表面分别穿设有复数第一穿孔及复数第二穿孔，且各第一穿孔底...
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