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本发明提供一种NAND FLASH使用寿命的计算方法及系统。其中方法包括：获取NAND FLASH的测试参数及NAND FLASH的擦写次数初始值；根据测试参数对所述NAND FLASH进行测试，并获得每次测试后NAND FLASH的擦写次...
该专利属于珠海全志科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海全志科技股份有限公司授权不得商用。

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