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本发明涉及检测系统和方法。检测系统包括：分布式射线源，该分布式射线源上具有多个射线源焦点，每个射线源焦点辐射射线以照射受检物，并且这多个射线源焦点被分成一定数量的群组；前准直器，每个射线源焦点的射线经由前准直器限制而射向XRD检测设备；XR...
该专利属于清华大学;同方威视技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学;同方威视技术股份有限公司授权不得商用。

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