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一种基于聚合降阶的集成电路热分析方法技术
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文档序号:15704934
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本发明属于集成电路技术领域,涉及一种基于聚合降阶的集成电路热分析方法。所述方法包括:通过有限差分等方法构造热分析系统;将热阻矩阵表示为无向图形式;对热阻矩阵的无向图进行谱分析,获得节点的划分;根据子集划分,将同一集合中的节点进行粗粒化,得到...
该专利属于复旦大学所有,仅供学习研究参考,未经过复旦大学授权不得商用。
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