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本发明涉及一种用于分析介质的光学系统，光学系统(1)包括用于发射穿过介质(2)的光束(4)的光源(3)、用于接收光束(4)的接收器(5)、至少一个用于限制光源(3)的光束(4)的第一光阑(6)、至少一个用于将至少第一光阑(6)成像到接收器(...
该专利属于恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司授权不得商用。

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