下载一种开方后硅块的检测方法的技术资料

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本发明的目的是一种开方后硅块的检测方法,该硅块的检测方法包括以下步骤:(1)硅块材料初步筛选,(2)然后对硅块的表面进行少子寿命测试,(3)硅块材料精筛,通过对小锭的均值进行范围筛选,将不合格的硅块小锭进行去除,能够对硅块的表面进行检测,将...
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