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本发明公开了一种基于低频阻抗分析仪的测量薄膜磁极化率的方法，通过低频阻抗分析仪在变频下测量无磁性薄膜的阻抗，推导出电极化率；然后通过低频阻抗分析仪在变频下测量磁性薄膜的阻抗，利用上述步骤得到的电极化率推导出相应复数磁极化率。本发明基于低频阻...
该专利属于东南大学所有，仅供学习研究参考，未经过东南大学授权不得商用。

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