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本发明涉及电镜分析技术领域，涉及一种单根一维纳米材料截面应力的分析方法。该方法包括：(1)确定待分析的单根一维纳米材料并使其长轴方向与样品杆倾转轴线方向垂直；(2)确定衍射点，得到系列倾转电子衍射谱；(3)按照倾转角度顺序排列，形成原始倒空...该专利属于国标（北京）检验认证有限公司;北京有色金属研究总院所有，仅供学习研究参考，未经过国标（北京）检验认证有限公司;北京有色金属研究总院授权不得商用。