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本发明提供的受激辐射损耗显微方法及装置，包括如下步骤：步骤S1，将初始激光光束分为第一激光光束和第二激光光束；步骤S2，调节所述第一激光光束的能量，并将所述第一激光光速聚焦在晶体光纤上，所述晶体光纤能够被激光激发,输出具有连续光谱的激发光；...
该专利属于王富所有，仅供学习研究参考，未经过王富授权不得商用。

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