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本发明涉及一种用于翘曲变形测试的样品制备方法，其特征是，包括以下步骤：（1）将待测样品放置在样品台上，样品台中间为放置待测样品的放置区域，在放置区域的周围设置凸台；（2）在待测样品的上方放置白色胶膜，白色胶膜的边缘托放在凸台上；（3）在样品...该专利属于华进半导体封装先导技术研发中心有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华进半导体封装先导技术研发中心有限公司授权不得商用。
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本发明涉及一种用于翘曲变形测试的样品制备方法，其特征是，包括以下步骤：（1）将待测样品放置在样品台上，样品台中间为放置待测样品的放置区域，在放置区域的周围设置凸台；（2）在待测样品的上方放置白色胶膜，白色胶膜的边缘托放在凸台上；（3）在样品...