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一种LED驱动电源加速老化试验系统与方法，涉及LED驱动电源可靠性分析技术领域，该系统包括：电源、第一功率测试装置、第二功率测试装置、温度应力装置和寿命预测装置；温度应力装置作用于被测LED驱动电源上，使其老化，电源给第一功率测试装置供电，...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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