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本发明涉及一种芯片自动测试方法及系统，所述方法包括实时记录被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值；提取所述测试值；将所述测试值与期望值进行比较，并根据所述比较结果生成对比报告；根据所述对比报告定位所述被测试芯片的失效信息，所述失效信息包括...
该专利属于珠海全志科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海全志科技股份有限公司授权不得商用。

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