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本发明公开了一种测试控制电路、芯片及测试控制方法，包括测试使能单元，用于产生测试使能信号，并将产生的测试使能信号输出至电源控制单元、验证单元和测试激励单元；电源控制单元，根据接收的测试使能信号，确定是否向验证单元供电；验证单元，用于在供电状...该专利属于大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司授权不得商用。