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基于暗条纹逻辑判断的相位成像设备及方法技术
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文档序号:15434415
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本申请提供了一种基于暗条纹逻辑判断的相位成像设备,包括光源装置、扩束准直元件、空间光调制器、透镜元件、阵列探测器以及图像生成装置,所述图像生成装置根据空间光调制器加载的多个相位掩膜和待测物体的相对相位取值构建参考库矩阵,根据阵列探测器记录的...
该专利属于北京理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京理工大学授权不得商用。
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