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本发明公开了一种电化学沉积法制备的金属基碳纳米复合材料中增强材料含量的测定方法。采用高频红外碳硫分析仪对金属基碳纳米复合材料中的碳含量进行测定，测定精度可达1 ppm，并且可以测多种金属与多种碳纳米复合材料中的碳增强材料含量。本方法操作简单...
该专利属于武汉大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉大学授权不得商用。

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