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一种SiC颗粒表面吸附阴离子的分析检测方法，通过一系列的处理流程，使SiC颗粒与含有阴离子的电解液彻底分离，利用傅里叶红外光谱仪快速检测到被吸附的阴离子的红外特征峰，进而确定所吸附的阴离子。本发明提供的检测SiC表面吸附阴离子的分析检测方法...
该专利属于云南民族大学所有，仅供学习研究参考，未经过云南民族大学授权不得商用。

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