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本实用新型涉及一种测试装置，尤其涉及一种芯片测试装置；包括框架、上按压盖板、转动压块、测试中心座和浮动平台，上按压盖板在框架上沿垂直于框架方向相对运动，上按压盖板与框架之间设置有第一弹性件；转动压块为两个、且两端均转动连接在框架上，转动压块...
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