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一种射频集成电路测试设备制造技术
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文档序号:15080659
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本发明涉及测试设备,具体涉及射频集成电路测试设备。一种射频集成电路测试设备,包括上位机、交换机、PXI机箱和接口系统、测试仪器及器件安装台,所述上位机中设置有中央处理器模块、接口模块、电路功能设置模块和参数测试模块;接口模块用于和接口系统连...
该专利属于江苏艾科半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过江苏艾科半导体有限公司授权不得商用。
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