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本发明公开了一种基于调制度的宽光谱干涉的零级条纹的寻找方法，条纹干涉图中，利用二维傅里叶变换，获得干涉图的频谱信息，然后进行基频信息提取，进而再逆傅里叶变换，通过相关计算获得单帧条纹图中单个像素点的调制度信息，最后沿扫描方向针对单个像素点定...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。

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