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本发明提供了一种芯片输入引脚测试方法和装置，所述方法根据控制信号来切换当前芯片所处的模式，并输入激励序列至芯片的待测引脚，而后通过采样单元将待测引脚接收到的数值存储于存储单元中，再通过待测引脚对应的输出引脚(输出功能良好的、与待测引脚对应的...
该专利属于福州瑞芯微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过福州瑞芯微电子股份有限公司授权不得商用。

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