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模拟不同注量率中子辐照的试验方法技术
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文档序号:14854763
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模拟不同注量率中子辐照的试验方法,涉及材料和器件的辐照试验。为了解决采用中子辐照产生的位移辐射损伤易形成位移缺陷,进而造成材料和器件性能退化的问题。所述方法为:选择重离子的类型和注量率,利用选择的重离子对材料和器件进行辐照,使所述材料和器件...
该专利属于哈尔滨工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。
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