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本发明涉及一种星敏感器光电探测器抗辐照性能的定量检测装置及方法，通过辐照试验系统在低剂量率的情况下使用60Co‑γ辐射源对光电探测器进行辐照试验；通过移位测试系统将辐照过的光电探测器移出辐照环境，完成图像的采集和图像参数的计算。本发明通过为...
该专利属于上海航天控制技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海航天控制技术研究所授权不得商用。

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