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本发明属于稀疏超分辨检测领域，并公开了一种基于稀疏的微小缺陷高频超声显微成像超分辨的方法。该方法包括如下步骤：执行过采样高频超声显微C‑扫成像；根据过采样时的采样步长与超声探头分辨率，计算出探头点扩散函数k；由点扩散函数根据进行稀疏超分辨计...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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