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在用于测试集成电路(IC)的一种电路(100)的所述示例中，电路(100)包括接收N个扫描输入(102)并生成M个伪扫描输入(106)的输入转换器(104)，其中M和N是整数。扫描压缩架构(110)耦合到输入转换器(104)并响应于M个伪扫...
该专利属于德克萨斯仪器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过德克萨斯仪器股份有限公司授权不得商用。

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