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提供一种与现有技术相比电路构成简单且可高精确度观测内部电压波形的半导体装置，所述半导体装置包括：测试模式的控制电路，其检测半导体装置在既定的观测期间中进行动作时的内部电压而进行波形观测；以及比较单元，其在所述观测期间中将所述内部电压与既定的...
该专利属于力晶科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过力晶科技股份有限公司授权不得商用。

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