下载半导体图案的测量装置、使用其的测量系统和测量方法的技术资料

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一种测量方法包括:通过将第一分光照射到物体来获取从物体反射的图案反射光,第一分光通过反射偏振光来产生;通过将第二分光照射到反射器来获取从反射器反射的相位受控的镜面反射光,第二分光通过传输偏振光来产生;以及基于图案反射光与镜面反射光之间的干涉...
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