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本发明一种用于Flash存储器的差分位线结构及其操作方法,读取可靠,编程操作电压低,存储单元使用寿命长。所述结构包括一对差分位线和一个数据缓冲电路;一对差分位线包括一端分别连接数据缓冲电路的第一位线BL0和第二位线BL1;数据缓冲电路的输出...该专利属于西安紫光国芯半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过西安紫光国芯半导体有限公司授权不得商用。
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本发明一种用于Flash存储器的差分位线结构及其操作方法,读取可靠,编程操作电压低,存储单元使用寿命长。所述结构包括一对差分位线和一个数据缓冲电路;一对差分位线包括一端分别连接数据缓冲电路的第一位线BL0和第二位线BL1;数据缓冲电路的输出...