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一种三维编码的液晶高光谱计算成像测量装置与测量方法制造方法及图纸
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下载一种三维编码的液晶高光谱计算成像测量装置与测量方法的技术资料
文档序号:14652799
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本发明的提供一种三维编码的液晶高光谱计算成像测量装置,包括前置透镜2、波段选择与分光模块3、空间编码模块4、准直透镜5、面阵探测器6、数据存储模块7、计算重构模块8;该测量仪基于三维编码,对物体的三维光谱数据,包括二维空间信息及一维光谱信息...
该专利属于北京理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京理工大学授权不得商用。
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