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本发明公开了一种基于双光子图像的突触检测方法，其涉及模式识别和神经学技术领域。其中，该方法包括获取所述双光子图像；将所述双光子图像分为轴突图像和树突图像；在所述轴突图像中进行轴突小结的2D检测；在所述树突图像中进行树突棘的2D检测；用检测到...
该专利属于中国科学院自动化研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院自动化研究所授权不得商用。

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