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一种微位移测试系统技术方案
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文档序号:14505117
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本发明公开了一种微位移测试系统,包括线性可变差动变压器,以及用于产生方波信号的主单片机;用于从方波信号中抽取2.5kHz正弦基波信号的基波抽取电路;连接线性可变差动变压器的初级线圈的平衡驱动电路,分别连接线性可变差动变压器的第一次级线圈和第...
该专利属于上海工程技术大学所有,仅供学习研究参考,未经过上海工程技术大学授权不得商用。
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